Medição de dimensões em 3D
Medição de coplanaridade do terminal do conector
Inspeção de aparência 3D
Inspeção de aparência na solda de entrada
Identificação e diferenciação em 3D
Orientação, inspeção OCR e acomodação do chip de CI
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 0,3 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 0,4 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 0,5 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 1 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 3 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 5 µm |
| Repetitividade |
|---|
| Z (altura): 10 µm |
Inspeção 3D sem complicações com o scanner de captura instantânea a laser 3D
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